北京歐屹科技有限公司 >> 企業(yè)新聞
液晶面板行業(yè)的配向膜（PI）的配向角度的檢驗
發(fā)布日期：2020-04-27
隨著技術的發(fā)展，光學薄膜的光學性能也在廠家的不斷提高，市場需要更高等的產(chǎn)品，其中在液晶面板吃起的成產(chǎn)中，也液晶貼的的一層膜的配向角度的優(yōu)良很大程度上影響生產(chǎn)出來的液晶面板的顯示效果的好壞。關于如何了解這一層配向膜（PI）的配向角度，研發(fā)人員一直沒有合適設備來測量， 近期，日本的phl廠家?guī)磉@款通過測量雙折射的方法來檢驗配向角度的設備。
測量示例：
通過WPA-200的檢驗，可以知道產(chǎn)品的雙折射大小和方向，內(nèi)應力的分布情況，在經(jīng)過分析得到數(shù)據(jù)
上一篇： 應力雙折射測量裝置的問題答疑下一篇： 光學和激光、激光加工應用中的關鍵技術
商鋪導航
聯(lián)系我們
- 公司名:北京歐屹科技有限公司
- 地址：北京 北京 昌平區(qū)北京昌平區(qū)回龍觀西大街龍冠大廈429室
- 郵箱：sales@oelectron.com
- 聯(lián)系人：魯濤
- QQ：
留言咨詢
